Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/19543
Title: | Методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем |
Other Titles: | Methods to investigate computer microschems fairule |
Authors: | Ярмоленко, М. В. Натрошвілі, Світлана Геннадіївна |
Keywords: | комп’ютерні мікросхеми дифузія дислокації закони дифузії енергія активації математичне моделювання computer chips diffusion dislocations diffusion laws activation energy mathematical modelling |
Issue Date: | 2021 |
Publisher: | Київський національний університет технологій та дизайну |
Citation: | Ярмоленко М. В. Методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем / М. В. Ярмоленко, С. Г. Натрошвілі // Інноватика в освіті, науці та бізнесі: виклики та можливості : матеріали II Всеукраїнської конференції здобувачів вищої освіти і молодих учених, м. Київ, 18 листопада 2021 року. – Т. 1. – Київ : КНУТД, 2021. – С. 346-355. |
Abstract: | В статті розглянуто методи дослідження виходу з ладу комп’ютерних мікросхем в результаті проходження електричного струму: метод визначення часу безвідмовної роботи алюмінієвого дроту з мідним покриттям, метод обчислення профілю дифузійного дислокаційного конуса, метод розрахунку кута конуса біля вершини. Для аналізу використовуються літературні експериментальні дані. The article considers methods of studying the failure of computer chips as a result of electric current: method of determining the time of trouble-free operation of aluminium wire with copper coating, the method of calculating the diffusion dislocation cone profile, the method of calculating the cone angle at the top. Literary experimental data are used for analysis. |
URI: | https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/19543 |
Appears in Collections: | Кафедра комп'ютерної інженерії та фундаментальних дисциплін (КІФД) Інноватика в освіті, науці та бізнесі: виклики та можливості |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Innovatyka2021_V1_P346-355.pdf | 351,5 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.