Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/17194
Назва: Intermetallics disappearance rates and intrinsic diffusivities ratios analysis in the Cu-Zn and the Cu-Sn systems
Інші назви: Аналіз кінетики зникнення інтерметалідів та відношення внутрішніх коефіцієнтів дифузії у системах Cu-Zn та Cu-Sn
Автори: Yarmolenko, Mykhaylo Viktorovych
Ключові слова: diffusion
intermetallics
phases formation kinetics
copper
zink
tin
Kirkendall-Frenkel porosity
Kirkendall shift
дифузія
інтерметаліди
кінетика утворення фаз
мідь
цинк
олово
пористість Кіркендалла-Френкеля
зсув Кіркендалла
Дата публікації: 24-лют-2021
Бібліографічний опис: Yarmolenko M. V. Intermetallics disappearance rates and intrinsic diffusivities ratios analysis in the Cu-Zn and the Cu-Sn systems / M. V. Yarmolenko // Physics and Chemistry of Solid State. – 2021. – Vol. 22, № 1. – P. 80-87.
Source: Physics and Chemistry of Solid State
Фізика і хімія твердого тіла
Физика и химия твердого тела
Короткий огляд (реферат): Intermetallics disappearance rates and intrinsic diffusivities ratios in the Cu-Zn system at temperature 400 oCand in the Cu-Sn system at temperatures from 190 oC to 250 oC are analyzed theoretically using literature experimental data. Diffusion activation energies and pre-exponential coefficients for the Cu-Sn system are calculated combining literature experimental results.
Теоретично проаналізована кінетика зникнення інтерметалідів у системі Cu-Zn при температурі 400 oC та у системі Cu-Sn при температурах від 190 oC до 250 oC. Обчислено відношення внутрішніх коефіцієнтів дифузії у системі Cu-Zn при температурі 400 oC та у системі Cu-Sn при температурі 200 oC. Знайдено також енергію активації дифузії та передекспонентні множники для системи Cu-Sn. Для аналізу були використані літературні експериментальні дані.
DOI: 10.15330/pcss.22.1.80-87
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://er.knutd.edu.ua/handle/123456789/17194
Faculty: Інститут комп'ютерних технологій та дизайну
Department: Кафедра комп'ютерної інженерії та фундаментальних дисциплін
ISSN: 1729-4428 (print)
2309-8589 (online)
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації (статті)
Кафедра комп'ютерної інженерії та фундаментальних дисциплін (КІФД)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
4744-Article_Text-10732-1-10-20210224.pdf510,52 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.